芯谷双新品齐发：ISSW－00304T－PD－PL4与ISSW－0020DT－PD－PL3，夯实射频开关高端赛道

• 频率范围：9KHz-30GHz 

• 插入损耗：2.0dB typ. 

• 隔离度：56dB typ. 

• IIP3：45dBm typ. 

• P-1：28dBm typ. 

• 开关速度：40ns 

• 无低频杂散 

• 供电电压：+3.3V/-2.5V 

• 控制电压：0~VDD 

• ESD 等级：2KVHBM 

• 芯片尺寸：LGA-4X4-24PIN

高频覆盖至30 GHz，延伸至毫米波边缘

• 覆盖5G NR n257（28 GHz）、n258（26 GHz）频段。插损从低频到30 GHz爬升约1.5 dB，斜率平缓，内部匹配网络在宽带范围内做了优化。通道幅度一致性<0.2 dB、相位一致性<2°，在多通道相参系统中，通道间差异直接叠加为系统误差，PL4的对称布局将这一误差控制在无需额外校准的水平。

超高速开关：40 ns，满足高速测试需求

• PL4典型开关速度仅40 ns，相比PL3（300 ns）提升近8倍。在ATE场景中，开关速度直接乘以测试吞吐量——每通道节省约260 ns，可支持每秒数千万次轮询，对量产测试效率的提升是可量化的。

低成本集成方案

• 单颗PL4芯片实现SP4T功能，替代多颗SPDT级联方案，减少外围控制逻辑与匹配网络，有效降低BOM成本及PCB面积。这一集成优势在高密度测试板卡和商用通信设备中尤为突出，兼顾性能与成本。

• 多通道射频测试系统（如天线阵列测试、多端口网络分析仪）

• 5G 毫米波频段信号路由（n257–n260 部分频段）

• 高速 ATE 通道复用，尤其需纳秒级切换的射频参数并行测试

• 频率范围：9KHz-20GHz 

• 插入损耗：1.0dB 

• 隔离度：50dB 

• IIP3：60dBm 

• P-1：37dBm 

• 可热切换：27dBm 

• 无低频杂散(外部负压供电模式) 

• 供电电压：+3.3V/0V(-2.5V) 

• ESD 等级：2KVHBM 

• 芯片尺寸：LGA3X3-20PIN

高频覆盖至20 GHz，全频段性能均衡

• 全频段插损1.0 dB、隔离度50 dB、回波损耗≥17 dB。吸收式设计——非选通端口内置50Ω负载，避免反射式开关因端口开路/短路导致前级放大器不稳定或驻波恶化，对测试前端和接收链路是硬性要求。

大功率处理能力，IIP3达60 dBm

• PL3的P-1dB在2~20 GHz频段内达37 dBm，IIP3达60 dBm，热切换功率达27 dBm。高P-1dB意味着开关能承受大信号而不失真，高IIP3则保证多信号同时通过时互调产物足够低，二者共同确保器件在大功率多载波场景下仍保持优异线性度。

开关速度，典型300 ns

• PL3的开关速度典型值为300 ns，满足绝大多数通道切换场景的实时性需求，在高功率信号路由应用中提供充足的切换余量。

灵活供电模式，解决杂散痛点

• 支持双供电模式：内供（VDD=3.3 V，VSS=0 V）集成振荡器产生负压，简化外围电路，但会引入特定频点杂散；外供（VDD=3.3 V，VSS=-2.5 V）完全规避杂散，满足接收链路对频谱纯净度的严苛要求。可根据信噪比预算灵活选择。