惠瑞捷推出HSM3G高速存储器测试解决方案

惠瑞捷 SOC 测试副总裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型 ATE 解决方案。惠瑞捷可升级V93000 HSM测试平台的寿命，能够为从 DDR3 到 DDR4 再到将来更高级主流 DRAM 的至少三代设备提供有价值的投资回报。这些测试非常节约成本。”

V93000 HSM3G 的速度和功能将来都可以升级，提供了高速存储器测试市场上非常完整的功能。其可编程的、快速的每引脚 APG 能力得到了数据总线倒置 (DBI) 和循环冗余校验码 (CRC) 数据的支持，能够对高级的 DDR4 存储器技术功能进行测试，确保了较高的测试质量和产量。

得益于其每引脚的存储器自动测试设备处理能力，V93000 HSM3G 可以节约高达20%的测试时间。它提供全并行模式的执行(parallel pattern execution)、全并行的直流检测以及眼宽的测量(eye-width measurements)，从而提供了非常高的多点效率。

V93000 HSM3G 在整个速度范围内实现了 2.9 Gbps 的原生数据传输率以及 256-site DDR3 实际并行测试(parallel testing)，而无需任何测试时间管理费用，也不会影响准确性、功能性、测试范围以及产量。得益于其原生速度余量(native speed headroom)，HSM3G 可以满足所有主流DDR3 总线速度需求以及高端游戏 DDR3 以及前两个 DDR4 大规模速度等级。V93000 平台架构确保将来能够升级到更高速的设备。（记者：孙丽君）